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田村 浩司
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 41(9), p.5845 - 5848, 2002/09
被引用回数：3 パーセンタイル：15.64(Physics, Applied)レーザー光イオン化プラズマから引き出されたネオジムイオンビームの収束特性を、多チャンネルファラデーカップを掃引することにより測定した。ファラデーカップ位置でのイオンビームは、引き出し電極系に半球型電極を配し収束電場を設けることにより収束することができた。また、中心イオンビーム強度はこれにより約36倍に増加した。この結果は、レーザー光イオン化イオン源の利用に有益である。
田村 浩司
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 41(1), p.405 - 409, 2002/01
被引用回数：2 パーセンタイル：10.8(Physics, Applied)レーザー光イオン化プラズマから引き出されたネオジムイオンビームの強度分布を多チャンネルファラデーカップを掃引することにより測定した。ファラデーカップ位置でのイオンビームは、従来のイオン引出し方法では空間電荷等の原因により広がりが大きいものであったが、引き出し系外側に半円筒型電極を配し、同心円状電位分布を設けることによりビーム幅は減少した。中心イオンビーム強度は、これにより約2倍に増加した。この結果は、レーザー光イオン化イオン源の応用に有益である。
田村 浩司; 足立 肇*; 小倉 浩一; 大場 弘則; 柴田 猛順
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 38(11), p.6512 - 6516, 1999/11
被引用回数：12 パーセンタイル：50.95(Physics, Applied)中性原子とイオンの間の衝突で生じる電荷移行反応はレーザー同位体分離の重要な素過程のひとつである。ウランの基底状態のイオンと中性原子の対称電荷移行断面積を衝突エネルギーが100eVから1200eVの範囲で測定した。断面積は反応で生成したイオン量と主イオンビームとのイオン量の比によって決定した。原子ビームは水冷銅るつぼ中のウラン金属を電子ビーム加熱することにより得た。衝突エネルギーが100eVの断面積は1.3
10
cm
で、Sinha&Bardsleyの理論値と同程度であった。断面積は衝突エネルギーとともに増加し1200eVでは2.710cmとなった。エネルギー依存性の傾向は、ウラン原子及びイオンの電子配置を考慮した計算結果とほぼ一致した。
長 明彦; 小泉 光生; 関根 俊明; 桂川 秀嗣*; Jin, W.*; 涌井 崇志*
JAERI-Review 99-025, TIARA Annual Report 1998, p.203 - 205, 1999/10
TIARA-ISOLでは中性子欠損側の希土類元素不安定核の
壊変研究を行ってきた。近年、核物性研究のプローブとしての不安定核ビームが必要となってきた。表面電離型イオン源を用いたNa不安定核の生成分離とレーザーイオン源開発の現状について報告する。
田村 浩司; 足立 肇; 柴田 猛順
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 38(5A), p.2973 - 2977, 1999/05
被引用回数：6 パーセンタイル：32.55(Physics, Applied)ディスプロシウム(Dy)とセリウム(Ce)について基底状態のイオンと中性原子との対称電荷移行断面積を衝突エネルギーが200eVから2000eVの範囲について測定した。断面積測定はレーザーイオン源から生成した主イオンビームのイオン量と、原子ビームとの衝突により生成したイオン量との比により決定した。原子ビーム速度は真空天秤法で求め、イオンエネルギーの高い領域では検出イオン信号の2次電子放出による補正を行った。得られた断面積はこのエネルギー範囲でほぼ一定で、Dyで1.810cm、Ceで0.910cmとなった。これは電子配置を考慮した予想と一致する結果である。
田村 浩司; 岡崎 哲治; 足立 肇; 大場 弘則; 柴田 猛順
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 38(4A), p.2122 - 2123, 1999/04
被引用回数：9 パーセンタイル：42.98(Physics, Applied)ウランイオン衝撃により、ウラン表面から放出される二次電子の放出係数を、イオン衝撃エネルギーが300~3000eVで測定した。ウラン表面はウランを蒸着して作り、ウランイオンはレーザーイオン源から生成した。二次電子は、しきいエネルギーの1000eV以下では発生しなかった。それ以上のエネルギーでは、二次電子放出係数はイオンエネルギーに比例して増加し、イオンエネルギー3000eVでは0.12になった。この結果からレーザーウラン濃縮における二次電子放出によるエネルギー損失は小さいことが明らかになった。
足立 肇; 田村 浩司; 岡崎 哲治; 小倉 浩一; 大場 弘則; 柴田 猛順
JAERI-Research 99-029, 19 Pages, 1999/03
JAERI-Research-99-029.pdf:0.94MB
ウランについて、基底状態のイオンがウラン原子と衝突する場合の対称電荷移行断面積を衝突エネルギーが100~1200eVの範囲で測定した。共鳴光電離法によるレーザーイオン源からのイオンビームを原子ビームに直交させて入射し、電荷移行生成イオンと主ビームイオンの電流をそれぞれのファラデーカップ検出器で測定して、それらの電荷量の比及び原子密度から電荷移行断面積を導出した。その結果、衝突エネルギーが100eVでは電荷移行断面積は(1.3
0.3)10cmであり、衝突エネルギーの増加とともに増加し、1200eVでは(2.70.3)10cmの値が得られた。100eV以上の衝突エネルギーで断面積が増加する傾向は原子及びイオンの電子配位を考慮した理論計算結果とほぼ一致した。
田村 浩司; 岡崎 哲治; 足立 肇; 大場 弘則; 柴田 猛順
JAERI-Research 98-073, 10 Pages, 1998/12
JAERI-Research-98-073.pdf:0.52MB
ウランイオン衝撃によるウラン表面からの二次電子放出係数をイオン衝撃エネルギー300~3000eVの範囲で測定した。ウラン表面はウラン原子の蒸着により作り、ウランイオンビームは共鳴イオン化法を用いたレーザーイオン源から引き出した。衝撃エネルギー約1000eV以下では、二次電子の放出はなかった。しきい値1000eV以上での二次電子放出係数は、イオン衝撃エネルギーのほぼ一次関数で増加し、3000eVの時0.12であった。
田村 浩司; 小倉 浩一; 柴田 猛順
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 37(9A), p.5005 - 5007, 1998/09
被引用回数：6 パーセンタイル：32.57(Physics, Applied)二次電子放出を測定する新しい方法を開発し、0.1~3keVの範囲でNdイオン衝撃によりNd表面から発生した二次電子放出収率を測定した。Ndイオンビームはレーザーイオン源から引き出され、電極表面はNd原子により連続的に蒸着されている。イオンビームの変動は、参照シグナルによりキャリブレートされている。二次電子は0.97keVのしきい値以下では放出されなかった。それ以上のエネルギーでは、入射イオンエネルギーに対し直線的に増加した。この結果から、入射イオン量に大きな変動のある場合でもレーザーイオン源からのイオンによる二次電子放出収率を求めることができることがわかった。
足立 肇; 田村 浩司; 岡崎 哲治; 柴田 猛順
JAERI-Tech 98-029, 32 Pages, 1998/08
平行平板電極板間で原子ビームにレーザー光を照射して共鳴電離により生成させたイオンを低電位側の電極板の開孔を通して引き出すレーザーイオン源からのイオンビームの断面強度分布を調べた。イオン引出し孔の直径、補助電極の使用の有無、引出し孔のメッシュの有無、各電極の印加電圧、イオン引出し電極からの距離等をパラメータとして二次元イオン強度分布を小型多チャンネルのファラデーカップイオン検出器を用いて測定し、ビーム広がりの少ない条件を把握した。その結果、イオンビームの広がりはイオンの空間電荷力による発散、イオン引出し電極形状による電位分布、光電離プラズマの上方向への移動等により説明できることがわかった。またこの結果は電荷移行断面積の測定装置の設計等に利用する。
足立 肇; 田村 浩司; 岡崎 哲治; 柴田 猛順
JAERI-Research 98-030, 29 Pages, 1998/06
JAERI-Research-98-030.pdf:1.22MB
ディスプロシウム(Dy)及びセシウム(Ce)について、基底状態のイオンが中性原子と衝突する場合の対称電荷移行断面積を衝突エネルギーが200eV~2keVの範囲で測定した。光共鳴電離法によるレーザーイオン源からのイオンビームを原子ビームに直交して照射し、電荷移行生成イオンと主ビームイオンの電流をそれぞれファラデーカップ検出器で測定して、それらの電荷量の比及び原子密度から電荷移行断面積を導出した。その結果、両者とも上記エネルギー範囲では断面積はほぼ一定で、Dyでは(1.820.14)10cm、Ceでは(0.880.12)10cmの値が得られた。これらの断面積の大きさの違いは、それらの原子及びイオンの電子配位を考慮して説明できる。
田村 浩司; 足立 肇; 岡崎 哲治; 柴田 猛順
Proc. of 6th Workshop on Separation Phenomena in Liquids and Gases (SPG'98), p.219 - 230, 1998/00
ディスプロシウム(Dy)及びセリウム(Ce)について、基底状態のイオンが中性原子と衝突する場合の対称電荷移行断面積を衝突エネルギーが200eV~2keVの範囲で測定した。光共鳴電離法によるレーザイオン源からのイオンビームを原子ビームに直交して、電荷移行生成イオンと主ビームイオンの電流をそれぞれファラデーカップ検出器で測定して、それらの電荷量の比及び電子密度から電荷移行断面積を導出した。その結果、両者とも上記エネルギー範囲ではほぼ一定で、Dyでは(1.820.14)10cm、Ceでは(0.880.12)10cmの値が得られた。これらの断面積の大きさの違いは、それらの原子及びイオンの電子配位を考慮した予測とほぼ一致する。
柴田 猛順; 小倉 浩一; 田村 浩司
真空, 40(8), p.668 - 670, 1997/00
ネオジムイオンによるネオジム清浄表面からの二次電子放出係数を衝撃イオンエネルギー0.1~3keVの範囲で測定した。ネオジム清浄表面は、ネオジム原子の蒸着により作成し、ネオジムイオンビームは、共鳴イオン化を用いたレーザーイオン源から引き出す等、新しい測定手法を工夫した。衝撃イオンエネルギー1keV以下で、二次電子放出係数は0であり、1keV以上では衝撃イオンエネルギーの1次関数で増大し、2keVでは約0.1であった。
